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用氟硅酸鉀滴定法測定二氧化硅原理介紹
來源:本站 發布時間:2021-12-20 15:19:39
二氧化硅滴定法均為間接法,氟硅酸鉀容量法應用*廣,確切的說法應為氟硅酸鉀沉淀分離法。該方法的原理是將含有硅的樣品與苛性堿、碳酸鈉等共融。
產生可溶硅酸鹽,可溶硅酸鹽在大量氯化鉀和F-存在下定量沉淀形成氟硅酸鉀(K2SiF6)。在沸水中分分析了氟硅酸鉀(HF),采用標準氫氧化鈉溶液滴定。對其含量進行間接測定。關鍵反應:
H2SiO3=+3H2F2=H2SiF6+3H2O………(3)
Na2SiO3=+2HCl=H2SiO3=+2NaCl………(2)
SiO2+2NaOH=Na2SiO3=+H2O………(1)
H2SiF6+2KCl=K2SiF6↓+2HCl………(4)
K2SiF6+3H2O=4HF+H2SiO3+2KF………(5)
HF+NaOH=NaF+H2O----------------(6)
盡管表面看來這一過程似乎是試樣溶解產生K2SiF6,但要獲得準確的測定結果,需要從K2SiF6中分離出HF—用標準氫氧化鈉溶液來計算含硅量,這一過程并不復雜,在實際應用中必須注意一些關鍵的環節,才能獲得準確的測定結果。
上述(1)表示含硅樣品的分解,也可用HF分解樣品。H2SiO3(3)在HCl存在下,分解樣品中的硅酸鹽轉變為H2SiO3(3)(4)H2SiO3在大量氯化鉀和F-存在下產生K2SiF6沉淀(5)K2SiF6沉淀(5)K2SiF6沉淀生成HF(6)以氫氧化鈉標準溶液HF,硅量的間接測定。
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